特徴
- サンプル切断用のスリット入りテーブルとナイフブレードです。食品の他、半導体のシリコンウェハ―などの切断も可能です
- スリット入りテーブルは、機器に対し垂直にスリットが入っているため、サンプルのカット面が見やすいほか、サンプルの水平移動が可能なため、連続して測定しやすく、作業性の向上ができます。
- この特注のナイフブレードは、幅90mmと標準品のナイフブレードFR-NB-80より10mm長いため、より大きなサンプルを一度に切断できます。
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