チップ部品のはんだ継手せん断試験(JIS Z3198-7:2003 一部準拠)

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チップ部品のはんだ継手せん断試験(JIS Z3198-7:2003 一部準拠)

せん断力

JIS

JIS Z3198-7(2003)「鉛フリーはんだ試験方法-第7部:チップ部品のはんだ継手せん断試験方法」に基づいたチップ部品のはんだ継手せん断試験を行います。近年電子デバイスはIoT、5G対応やリモートスタイルの定着により情報処理機器、通信端末における需要増加のみならず、産業機器や車載機器においてもさらなる成長が見込まれます。この専用治具を使用した測定は効率よく規格に基づいた測定を実現でき、直面する生産の増加や多様化に対応するための研究開発、品質管理の場面で活用いただけます。

関連規格

JIS Z3198-7 [ 2003 ] 「鉛フリーはんだ試験方法-第7部:チップ部品のはんだ継手せん断試験方法」一部準拠

関連サンプル

  • 表面実装部品
  • はんだ接合部
  • 基板

測定動画

注意事項

動画は、特定のサンプルにおける測定イメージです。形状や材質によっては測定できない場合がございます。
製品構成例は一例です。実際の測定サンプル・測定方法・荷重値で推奨製品、関連オプション、レンジは異なります。
動画内で使用している製品が、製品構成例でご紹介している製品と異なる場合がございます。
製品の組み合わせによっては、取り付けることができないものもあります。個別の製品ページで詳細をご確認ください。

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